一种适合于X荧光多元素分析仪的密封膜片渗漏测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320035894.9
IPC分类号：G01M3/16
申请日期：
2013-01-24
申请人：
丹东东方测控技术有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种适合于X荧光多元素分析仪的密封膜片渗漏测量装置
申请号	CN201320035894.9	申请日期	2013-01-24
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M3/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M3/00 结构部件的流体密封性的测试 G01M3/02 应用流体或真空 G01M3/04 通过在漏泄点检测流体的出现 G01M3/16 应用电检测装置（G01M 3/06，G01M 3/12，G01M 3/20，G01M 3/24，G01M 3/26优先）	IPC分类号	G;0;1;M;3;/;1;6查看分类表>
申请人	丹东东方测控技术有限公司	申请人地址	辽宁省丹东市沿江开发区滨江中路136号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	丹东东方测控技术有限公司	当前权利人	丹东东方测控技术有限公司
发明人	张伟;佟超;于海明;龚亚林;尹兆余;陈树军;周洪军;金鑫;李剑锋;王政;梁宏伟;夏远恒;曲宝剑;温晓光;刘家勇;毕然
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型涉及一种适合于X荧光多元素分析仪的密封膜片渗漏测量装置。该装置采用双层膜片对探测腔体内部空间进行密封保护，并在内膜片与外膜片之间用安装有用绝缘圈间隔开的二块铜板，利用二极管的反向截止和水的导电性，来判断外铜板与内铜板之间是否因接触到矿浆而形成导通，进而判断外膜片4的密封是否发生渗漏。一旦检测到外膜片渗漏或线路连接故障，可通过继电器发出报警信号，使仪器启动保护措施。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供