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一种用于双光谱成像仪的摆扫及在轨定标组件

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201611250226.2
  • IPC分类号:G01J3/427;G01J3/28;G01J3/02;G01J3/06
  • 申请日期:
    2016-12-29
  • 申请人:
    中国科学院西安光学精密机械研究所
著录项信息
专利名称一种用于双光谱成像仪的摆扫及在轨定标组件
申请号CN201611250226.2申请日期2016-12-29
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-06-13公开/公告号CN106840402A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J3/427IPC分类号G;0;1;J;3;/;4;2;7;;;G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;0;2;;;G;0;1;J;3;/;0;6查看分类表>
申请人中国科学院西安光学精密机械研究所申请人地址
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院西安光学精密机械研究所当前权利人中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人李立波;王爽;邹纯博;刘学斌;孙剑;赵强;李娟
代理机构西安智邦专利商标代理有限公司代理人胡乐
摘要
本发明公开了一种用于双光谱成像仪的摆扫及在轨定标组件。该组件包括两个成V形反射摆镜及一个倾斜设置的定标反射镜,两个摆镜与定标反射镜之间的相对位置固定,可沿转轴正负90°旋转,用于实现两个光谱成像仪高精度同步摆扫和在轨定标功能。该组件由于只需要一个运动部件、结构紧凑、易于装调,很好满足了星载设备对于重量、体积和可靠性的要求。

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