具有双光信号接收传感器列阵结构的自动异物检查机

发明专利无效专利

申请号：
CN200710046163.3
IPC分类号：G01N21/90
申请日期：
2007-09-20
申请人：
上海市激光技术研究所

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著录项信息

专利名称	具有双光信号接收传感器列阵结构的自动异物检查机
申请号	CN200710046163.3	申请日期	2007-09-20
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-02-27	公开/公告号	CN101131368
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/90 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/90 在容器内或它里面的物件内（G01N 21/91优先）〔3〕	IPC分类号	G01N21/90查看分类表>
申请人	上海市激光技术研究所	申请人地址	上海市徐汇区宜山路7*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海市激光技术研究所	当前权利人	上海市激光技术研究所
发明人	乐卫俭
代理机构	上海申汇专利代理有限公司	代理人	吴宝根

摘要

本发明公开了一种双光信号接收传感器列阵结构的自动异物检查机它从左向右依次置有发光管组件、光发射集光镜、光接收集光镜、成像镜、第一光接收传感器列阵，内含被检液体的容器置于光发射集光镜和光接收集光镜之间的间歇旋转体上，特点是成像镜和第一光栏之间增设一个分光镜；成像光束通过分光镜被分成直射和反射两部分，直射部分光由第一光接收传感器列阵接收，反射部分由第二光接收传感器列阵接收，构成了双光接收传感器列阵结构检测异物。采用了双光接收传感器列阵结构，并在两个光接收传感器列阵前设置了光栏，选用相同的光接收传感器列阵器件，并错位安装，保证了光信号无遗漏接收，不会产生异物漏检，设置狭缝光栏，提高了系统的信噪比和灵敏度。