电磁波偏振方向检测方法及检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200910107490.4
IPC分类号：G01R29/08;G01J4/00;G01J1/42
申请日期：
2009-05-19
申请人：
清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司

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著录项信息

专利名称	电磁波偏振方向检测方法及检测装置
申请号	CN200910107490.4	申请日期	2009-05-19
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-11-24	公开/公告号	CN101893659A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;0;8;;;G;0;1;J;4;/;0;0;;;G;0;1;J;1;/;4;2查看分类表>
申请人	清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司	申请人地址	北京市海淀区清华园1号清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学,鸿富锦精密工业（深圳）有限公司	当前权利人	清华大学,鸿富锦精密工业（深圳）有限公司
发明人	肖林;张玉莹;姜开利;刘亮;范守善
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供一种电磁波偏振方向的检测方法，包括以下步骤：将一碳纳米管结构置于一真空环境中，该碳纳米管结构包括多个沿同一方向排列的碳纳米管；提供一电磁波发射源，发射一偏振的电磁波，并使其基本垂直地入射至所述碳纳米管结构表面，该碳纳米管结构吸收该电磁波并发光；在基本垂直于电磁波入射方向的平面内旋转所述碳纳米管结构，根据所述碳纳米管结构发出可见光的变化判断所述电磁波的偏振方向。该方法简单直观。本发明也提供一种电磁波偏振方向的检测装置。

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