加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

高载微构件动态特性测试装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200510046645.X
  • IPC分类号:G01P21/00
  • 申请日期:
    2005-06-08
  • 申请人:
    大连理工大学
著录项信息
专利名称高载微构件动态特性测试装置
申请号CN200510046645.X申请日期2005-06-08
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2005-12-21公开/公告号CN1710428
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01P21/00IPC分类号G;0;1;P;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人大连理工大学申请人地址
辽宁省大连市甘井子区凌工路2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人大连理工大学当前权利人大连理工大学
发明人王晓东;王涛;王立鼎;尹东
代理机构大连理工大学专利中心代理人关慧贞
摘要
本发明高载微构件动态特性测试装置,是属于微机电系统中动态测试装置领域。一种高载微构件动态特性测试装置,由高速转台、微结构激励、微结构夹持、光学振动测试装置、光纤旋转接头组成。高速转台的一端是转臂,另一端为轴套形状。真空室通过螺栓安装在高速转台的转臂上,光纤旋转接头安装在高速转台轴套中;隔振泡沫、减振质量、压电激振器、微构件、光纤探头夹持装置和光纤探测头均安装在真空室内。使用该发明可以测试常态、动态下结构的动态特性,便于分析研究。其结构简单、易于调试。扩充了仪器的功能,测试精度较高;可用它对微加速度传感器进行标定。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供