干涉粒子成像系统采样区内粒子的判别方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201610022105.6
IPC分类号：G01N15/06G01N15/02
申请日期：
2016-01-14
申请人：
天津大学

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专利名称	干涉粒子成像系统采样区内粒子的判别方法
申请号	CN201610022105.6	申请日期	2016-01-14
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-05-04	公开/公告号	CN105547945A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/06 测试悬浮颗粒的浓度（G01N 15/04，G01N 15/10优先；用称重法入G01N 5/00）〔3〕	IPC分类号	G01N15/06;G01N15/02查看分类表>
申请人	天津大学	申请人地址	天津市南开区卫津路*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津大学	当前权利人	天津大学
发明人	张红霞;刘京;贾大功;刘铁根;张以谟
代理机构	天津佳盟知识产权代理有限公司	代理人	李益书

摘要

一种干涉粒子成像系统采样区内粒子的判别方法，应用于干涉粒子成像系统，属于光学测量技术领域。该方法首先根据干涉条纹图尺寸计算公式推导片状激光束照明区域内干涉条纹图尺寸范围Φt_min～Φt_max。然后搭建干涉粒子成像实验系统，在系统离焦距g处采集干涉粒子条纹图像，处理图像得到实际干涉条纹图尺寸Φe，判断粒子是否在采样区内，若Φt_min＜Φe＜Φt_max，则粒子在采样区内，否则粒子不在采样区内。采集多幅图像，判断每个粒子是否在采样区内，记录实验结果，统计实验数据。根据实验结果，计算粒子场信息，比如粒子数密度。本发明为判别粒子是否在干涉粒子成像系统采样区内提供了一种新的方法，为粒子的浓度、粒子数密度的测量提供有力依据。

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