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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

半导体封装装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201821193345.3
  • IPC分类号:H01L21/67
  • 申请日期:
    2018-07-26
  • 申请人:
    华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
著录项信息
专利名称半导体封装装置
申请号CN201821193345.3申请日期2018-07-26
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/67IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;6;7查看分类表>
申请人华进半导体封装先导技术研发中心有限公司申请人地址
江苏省无锡市新吴区菱湖大道200号传感网国际创新园D1栋 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华进半导体封装先导技术研发中心有限公司当前权利人华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
发明人韦伟;杨兴会;周飞
代理机构北京三聚阳光知识产权代理有限公司代理人李博洋
摘要
本实用新型公开了半导体封装装置,其中一种半导体封装装置包括:座体;至少一个壳体,设置于所述座体上,并且所述壳体的一侧表面开口;至少一个第一模板,设置在壳体的内腔,且与所述壳体的底板相对设置;所述第一模板的第一表面开设有适于放置待封装基板的第一凹槽;所述第一凹槽底部表面开设有第一真空孔;在所述第一模板内部设置有通道,所述第一真空孔与所述通道连通。通过本实用新型,无需在体积较大的座体的底部设置O型密封圈;并且,由于第一模板体积较小、容易拆装,并且会根据待封装基板的不同情形频繁更换,因此,即使第一模板底部设置有O型密封圈,当该O型密封圈老化、磨损致使气密性较差时,可以在拆装更换第一模板时及时发现。

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