基于高分子材料老化试验的太阳光辐照的监测及分析方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310413915.0
IPC分类号：G01J3/28;G01N17/00
申请日期：
2013-09-11
申请人：
中国电器科学研究院有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于高分子材料老化试验的太阳光辐照的监测及分析方法
申请号	CN201310413915.0	申请日期	2013-09-11
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-08	公开/公告号	CN103499390A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;N;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	中国电器科学研究院有限公司	申请人地址	广东省广州市海珠区新港西路204号三栋变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电器科学研究院股份有限公司	当前权利人	中国电器科学研究院股份有限公司
发明人	冯皓;马坚;秦汉军
代理机构	广州知友专利商标代理有限公司	代理人	宣国华

摘要

本发明公开了基于高分子材料老化试验的太阳光辐照的监测及分析方法，包括步骤（1）在大气暴露试验场内选择与试验样品处于同等光辐照条件的位置作为监测点，对该监测点的太阳光谱进行测量，获得以波长λ为横坐标瞬时太阳光辐照强度Eeλ为纵坐标的瞬时太阳光谱图，以及当次测量的总太阳光辐照强度Ee，每天监测的太阳光谱数据不少于50组；（2）根据步骤（1）获得的数据，分析高分子材料试验样品老化历程、预测高分子材料试验样品的使用寿命，并且为开发高分子材料人工光老化加速试验方法和试验设备提供依据。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供