手机过压保护芯片测试探针卡

实用新型有效专利

申请号：
CN201821769122.7
IPC分类号：G01R1/067G01R31/28
申请日期：
2018-10-30
申请人：
嘉兴鹏武电子科技有限公司

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著录项信息

专利名称	手机过压保护芯片测试探针卡
申请号	CN201821769122.7	申请日期	2018-10-30
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/067 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/06 测量引线；测量探针（G01R 19/145，G01R 19/165优先）〔3〕 G01R1/067 测量探针〔3〕	IPC分类号	G01R1/067;G01R31/28查看分类表>
申请人	嘉兴鹏武电子科技有限公司	申请人地址	浙江省嘉兴市南湖区亚太路705号创新大厦A幢16层A16-*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	嘉兴鹏武电子科技有限公司	当前权利人	嘉兴鹏武电子科技有限公司
发明人	赵永昌;鲁斌;谷陈鹏;刘诚
代理机构	嘉兴启帆专利代理事务所（普通合伙）	代理人	王大国

摘要

本实用新型公开了一种手机过压保护芯片测试探针卡，包括与待测器件对接探针和至少一个手机过压保护测试模块，各个手机过压保护测试模块直接安装于接口电路板，各个手机过压保护测试模块同时与探针相连，所述手机过压保护测试模块包括第一至第四开关K1～K4、芯片断电响应测试模块和负载模拟模块。本实用新型公开的手机过压保护芯片测试探针卡，基于测试厂现有测试机电源仪表与信号发生及分析仪表，并加入高精度的手机过压保护测试模块，完成手机过压保护芯片多工位并行测试，提高了测试并行度，节省了测试时间，降低了测试成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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