一种基于密度分布矩阵的大规模仿真体系的表征方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810023129.9
IPC分类号：G06F19/00;G06T11/00
申请日期：
2008-07-29
申请人：
赵健伟

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专利名称	一种基于密度分布矩阵的大规模仿真体系的表征方法
申请号	CN200810023129.9	申请日期	2008-07-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-01-07	公开/公告号	CN101339585
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F19/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F19/00 专门适用于特定应用的数字计算或数据处理的设备或方法（专门适用于特定功能的入G06F17/00；专门适用于行政、商业、金融、管理、监督或预测目的的数据处理系统或数据处理方法入G06Q；医疗信息学入G16H）〔6，2006.01，2011.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;9;/;0;0;;;G;0;6;T;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	赵健伟	申请人地址	江苏省南京市鼓楼区草场门大街高教新村4栋2804室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	赵健伟	当前权利人	赵健伟
发明人	赵健伟;尹星
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种基于密度分布矩阵的大规模仿真体系的表征方法。首先对于一个有限空间中的所有位置统计粒子质点的存在状况，并对统计数据进行离散化处理，得到一个三维的原子密度分布矩阵；把密度分布矩阵投影到一个平面上；对原子密度分布矩阵进行采样；利用逆投影重建一定精度的三维图像。本发明可以在仿真过程中即时地按照一定的分辨率要求生成类似于透射电镜的照片的平面投影结果，并可进一步对所仿真的体系进行分析。对于目前纳米材料和器件的研究中比较关注的一维或准一维体系，还可以得到纵向密度分布函数，并直接引用信息科学中有关信号处理的理论和技术进行分析。同时，本发明所生成的数据记录文件的大小是传统方法记录的文件大小的1/50～1/100。

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