一种基于FP干涉仪的LIF测量荧光信号窄带滤光系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011390779.4
IPC分类号：G01N21/64;G02B26/00
申请日期：
2020-12-02
申请人：
中国科学院合肥物质科学研究院

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专利名称	一种基于FP干涉仪的LIF测量荧光信号窄带滤光系统及方法
申请号	CN202011390779.4	申请日期	2020-12-02
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-16	公开/公告号	CN112666137A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4;;;G;0;2;B;2;6;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院合肥物质科学研究院	申请人地址	安徽省合肥市庐阳区蜀山湖路350号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院合肥物质科学研究院	当前权利人	中国科学院合肥物质科学研究院
发明人	靳琛垚;叶孜崇;张炜;江堤;徐国盛
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	邓治平

摘要

本发明公开了一种基于FP干涉仪的LIF测量荧光信号窄带滤光系统及方法，包括激光源，发射的激光信号入射到激光调制器，经过激光调制器调制后，发射到目标粒子，通过光学透镜组收集荧光信号，所述光学透镜组连接到FP干涉仪，FP干涉仪连接有传感器，然后将传感器信号输出到第一锁相放大器，所述第一锁相放大器的参考信号来自激光调制器输出的调制参考信号；利用第二相放大器进行信号采集，对FP干涉仪进行共振频率的扫描调制，以FP干涉仪的调制信号作为参考信号，对由第一锁相放大器输出的经锁相放大后的LIF荧光信号进行二次锁相放大，利用FP干涉仪本身的精细度实现0.1‑0.5nm频宽的窄带滤光。

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