一种利用光声干涉成像进行无损检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200910058915.7
IPC分类号：G01N21/88G01N21/17G01N29/34
申请日期：
2009-04-13
申请人：
电子科技大学

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著录项信息

专利名称	一种利用光声干涉成像进行无损检测方法
申请号	CN200910058915.7	申请日期	2009-04-13
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2009-09-09	公开/公告号	CN101526483
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G01N21/88;G01N21/17;G01N29/34查看分类表>
申请人	电子科技大学	申请人地址	四川省成都市建设北路2*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	电子科技大学	当前权利人	电子科技大学
发明人	高椿明;张希仁;赵斌兴;王占平;王亚非;周鹰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种利用光声干涉成像进行无损检测的方法，所用器件包括泵浦激光器1、透镜2、检测激光器4、分光镜5、第一全反镜6、第一光束整形器7、白屏8、第二光束整形器9和第二全反镜10。利用该方法成像不用扫描，所成像既能反映材料表面的缺陷和均匀性，又能反映材料表面的光致声波，是材料表面无损检测和光致声波研究的一种新技术。