X射线光栅成像系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201520243659.X
IPC分类号：G01N23/20
申请日期：
2015-04-21
申请人：
北京师范大学;天津三英精密仪器有限公司

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著录项信息

专利名称	X射线光栅成像系统
申请号	CN201520243659.X	申请日期	2015-04-21
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0查看分类表>
申请人	北京师范大学;天津三英精密仪器有限公司	申请人地址	北京市海淀区新街口外大街19号北京师范大学核科学与技术学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京师范大学,天津三英精密仪器有限公司	当前权利人	北京师范大学,天津三英精密仪器有限公司
发明人	孙天希;孙学鹏;须颖;董友;刘志国
代理机构	北京名华博信知识产权代理有限公司	代理人	苗源;李冬梅

摘要

本实用新型公开一种X射线光栅成像系统，该X射线光栅成像系统包括：X射线光源；多毛细管X射线源光栅，其入口端设置有X射线光源，用于会聚X射线光源发射的X射线并得到用于照射样品的相干光；多毛细管X射线相位光栅，设置于样品之后，用于收集并调制照射样品后的X射线产生衍射自成像效应；多毛细管X射线分析吸收光栅，设置于相位光栅之后，用于收集相位光栅射出的X射线并进行处理，将其中的相位信息转化为可识别的光强信息；X射线探测器，设置在分析吸收光栅之后，用于探测并收集样品的信息。本实用新型的X射线光栅成像系统采用具有较大“高宽比”的多毛细管X射线光栅，不仅可提高分辨率，还能降低造价成本，便于推广。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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