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触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310170821.5
  • IPC分类号:G06F3/041
  • 申请日期:
    2013-05-10
  • 申请人:
    元太科技工业股份有限公司
著录项信息
专利名称触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置
申请号CN201310170821.5申请日期2013-05-10
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-03-12公开/公告号CN103631430A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F3/041IPC分类号G;0;6;F;3;/;0;4;1查看分类表>
申请人元太科技工业股份有限公司申请人地址
中国台湾新竹市科学工业园区力行一路3号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人元太科技工业股份有限公司当前权利人元太科技工业股份有限公司
发明人陈威豪;林金义
代理机构北京律诚同业知识产权代理有限公司代理人徐金国
摘要
本发明揭露一种触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置。触控面板的触点座标的取样方法包含:(a1)以低侦测频率侦测触控面板上的触点;(a2)计算低侦测频率下的两个触点座标间的距离;(a3)判断此两个触点座标间的距离是否大于第一临界距离;(a4)当判断结果为真,以高侦测频率侦测触控面板上的触点;(a5)计算高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离;(a6)判断步骤(a5)的两个触点座标间的距离是否小于第二临界距离,第二临界距离小于第一临界距离;以及(a7)当步骤(a6)的判断结果为真,以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

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