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一种模组测试治具

实用新型有效专利
  • 申请号:
    CN202221111029.3
  • IPC分类号:G01R31/26G01R31/44G01R1/04
  • 申请日期:
    2022-05-10
  • 申请人:
    深圳市斯迈得半导体有限公司
著录项信息
专利名称一种模组测试治具
申请号CN202221111029.3申请日期2022-05-10
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/26IPC分类号G01R31/26;G01R31/44;G01R1/04查看分类表>
申请人深圳市斯迈得半导体有限公司申请人地址
广东省深圳市宝安区石岩街道塘头社区石岩街道松白路中运泰科技工业厂区厂房6栋八*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市斯迈得半导体有限公司当前权利人深圳市斯迈得半导体有限公司
发明人陆鹏军;张路华;高宇辰;蔡广明
代理机构深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙)代理人胡小登
摘要
本实用新型公开了一种模组测试治具,包括上盖板、下基板、连接部,所述上盖板和下基板通过连接部活动连接,所述上盖板设置有测试部件,所述测试部件包括第一活动杆、第二活动杆,所述第二活动杆一端设置有第一定位孔,所述第一活动杆通过第一定位孔与第二活动杆螺钉连接,所述第二活动杆上设置有测试顶针,第二活动杆内设置有第一导线管,第一导线管内放置有第一导线,所述第一导线一端与测试顶针电性连接,本实用新型可以提高测试效率,使用方便、安全,能够提高光电参数测试的准确性。

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