一种珍珠珠层厚度的无损检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310477690.5
IPC分类号：G01B15/02
申请日期：
2013-10-14
申请人：
广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站

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著录项信息

专利名称	一种珍珠珠层厚度的无损检测方法
申请号	CN201310477690.5	申请日期	2013-10-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-22	公开/公告号	CN103528550A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B15/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B15/00 以采用波或粒子辐射为特征的计量设备（G01B 9/00，G01B 11/00优先）〔4〕 G01B15/02 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;1;5;/;0;2查看分类表>
申请人	广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站	申请人地址	广西壮族自治区北海市北海大道36号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站	当前权利人	广西壮族自治区质量技术监督局珍珠产品质量监督检验站
发明人	何锦锋;曾明;廖斌;张清
代理机构	北京远大卓悦知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	张清;贺持缓

摘要

本发明公开了一种珍珠珠层厚度的无损检测方法，包括以下步骤：将标准球体设置在X射线放射源和成像平面之间，使标准球体的球心位于参考直线上；利用X射线放射源照射标准球体，从而在成像平面上得到一标准球体图像，测量标准球体图像的半径R0，计算比例系数μ＝r0/R0，其中，r0为标准球体的半径；将待测珍珠设置在X射线放射源和成像设备之间，使待测珍珠的球心位于参考直线上；利用X射线放射源照射待测珍珠，从而在成像平面上得到待测珍珠图像，待测珍珠图像包括珠核图像和环状的珠层图像，测量待测珍珠图像的半径R1以及珠核图像的半径R2，待测珍珠的半径为r1＝μR1，珠核的半径为r2＝μR2，珠层厚度为r＝r1-r2。基于本发明的计算过程中的误差可控，测量结果更为准确。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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