三维表面测量方法及装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200410062790.2
IPC分类号：--
申请日期：
2004-07-09
申请人：
中国科学院计算技术研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	三维表面测量方法及装置
申请号	CN200410062790.2	申请日期	2004-07-09
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2005-03-02	公开/公告号	CN1587900
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	中国科学院计算技术研究所	申请人地址	北京市中关村科学院南路6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院计算技术研究所	当前权利人	中国科学院计算技术研究所
发明人	刘晖;李华
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	周国城

摘要

本发明涉及物体测量技术领域，特别是一种三维表面测量方法及装置。其方法是：用投射装置向物体表面投射规则的光点阵列，用两个以上成像装置从不同角度拍摄所述光点阵列，匹配拍摄图像中的光点投影点，并由此反求光点的三维坐标。它具有非接触、速度快、易操作、成本低的特点，在工业设计和制造、产品反向设计、虚拟现实等领域有广泛应用前景。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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