一种阶梯形三维离子阱质量分析器

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专利名称	一种阶梯形三维离子阱质量分析器
申请号	CN202021432852.5	申请日期	2020-07-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01J49/42 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01J 放电管或放电灯（火花隙入H01T；消耗电极的弧光灯入H05B；粒子加速器入H05H） H01J49/00 粒子分光仪或粒子分离管〔3〕 H01J49/26 质谱仪或质量分离管〔3〕 H01J49/34 动态分光仪〔3〕 H01J49/42 轨迹稳定型分光仪，如单极的、四极的、多极的、线振质谱仪型的〔3〕	IPC分类号	H;0;1;J;4;9;/;4;2查看分类表>
申请人	中国人民解放军军事科学院防化研究院	申请人地址	北京市昌平区阳坊镇中心南街37号院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民解放军军事科学院防化研究院	当前权利人	中国人民解放军军事科学院防化研究院
发明人	张众垚;李翠萍;孔景临;李宝强;张琳;秦墨林;曹丙庆
代理机构	中国人民解放军防化研究院专利服务中心	代理人	刘永盛

摘要

本实用新型涉及一种阶梯形三维离子阱质量分析器，它包括包括两个端电极和一个环电极。三个电极合围成一个立方体空间区域，三个电极的横截面中至少有一个电极的横截面为阶梯形。端电极和环电极接相应的射频电压信号。通过改变阶梯电极的层数量、横截面的高度和宽度，得到需要的高阶场比例。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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