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一种微纳米颗粒磁组装的电性能测试装置及其测试方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610866496.X
  • IPC分类号:G01R31/00
  • 申请日期:
    2016-09-27
  • 申请人:
    汕头大学
著录项信息
专利名称一种微纳米颗粒磁组装的电性能测试装置及其测试方法
申请号CN201610866496.X申请日期2016-09-27
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2017-03-15公开/公告号CN106501636A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/00IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人汕头大学申请人地址
广东省汕头市金平区大学路243号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人汕头大学当前权利人汕头大学
发明人牛小东;李翔;陈木凤;李游;李桥忠
代理机构广州三环专利商标代理有限公司代理人温旭;张泽思
摘要
本发明涉及一种微纳米颗粒磁组装的电性能测试装置及其测试方法。测试装置包括底座、绝缘磁流体混合液、两块导电板、两块可调挡板和可调电磁线圈。测试方法包括:选用绝缘磁流体;将微纳米导电颗粒混入绝缘磁性流体中;将绝缘磁流体混合液滴在载玻片上并加盖玻片,通过显微镜测出自组装线长度;调整可调挡板之间距离和磁场大小;将绝缘磁流体混合液滴入可调挡板中间,覆盖导电板,即可测得磁组装后微纳米导电颗粒的电性能。本发明结构紧凑,等待时间较短,利于多次试验,只需要微量的颗粒溶液或悬浮液便可对微纳米导电颗粒进行电性能测量,减少材料浪费,极大地降低了测试成本,有利于新型材料的开发和电性能测试。

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