一种基于ATE的DAC动态指标测试方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202211119320.X
IPC分类号：H03M1/10
申请日期：
2022-09-14
申请人：
中国电子科技集团公司第五十八研究所

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专利名称	一种基于ATE的DAC动态指标测试方法及系统
申请号	CN202211119320.X	申请日期	2022-09-14
法律状态	公开	申报国家	暂无
公开/公告日	2022-12-06	公开/公告号	CN115441870A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H03M1/10 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H03 基本电子电路 H03M 一般编码、译码或代码转换（用射流方法入F15C 4/00；光学模/数转换器入G02F 7/00；专用于特殊应用的编码、译码或代码转换见有关小类，例如G01D，G01R，G06F，G06T，G09G，G10L，G11B，G11C，H04B，H04L，H04M，H04N；专用于密码技术或涉及需要保密的其他目的的编码或译码入G09C）〔4〕 H03M1/00 模/数转换；数/模转换（模拟值转换到差分调制或相反转换入H03M 3/00）〔4〕 H03M1/10 校正或测试〔4〕	IPC分类号	H;0;3;M;1;/;1;0查看分类表>
申请人	中国电子科技集团公司第五十八研究所	申请人地址	江苏省无锡市滨湖区惠河路5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子科技集团公司第五十八研究所	当前权利人	中国电子科技集团公司第五十八研究所
发明人	陈宇轩;寿开元;季伟伟;解维坤;宋国栋
代理机构	无锡派尔特知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	杨立秋

摘要

本发明公开一种基于ATE的DAC动态指标测试方法及系统，属于DAC测试技术领域。首先，根据被测DAC的动态指标要求生成相应测试向量，确定测试向量发送速率，利用ATE的数字通道对被测DAC施加测试向量；其次，经过被测DAC转换后的模拟信号通过ATE的模拟采集板卡进行单通道分次采样，确定每次采样速率和总采样次数，每次采样保持相同采样速率、每次采样初始时刻相较上次采样初始时刻保持固定偏差；然后，采样完成后，将每次采样信号在时域恢复合成最终信号；最后，通过上位机对采样信号进行快速傅里叶变换，再通过频谱分析及数据处理得到被测DAC的动态指标测试结果。本发明能够针对高速DAC动态指标测试，不依赖外部仪器仪表，提高高速DAC动态指标测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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