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微纳米三坐标测量机接触式扫描探头

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201610128438.7
  • IPC分类号:G01B7/012;G01B7/016
  • 申请日期:
    2016-03-07
  • 申请人:
    安徽电气工程职业技术学院;国网安徽省电力公司培训中心;合肥工业大学;国家电网公司
著录项信息
专利名称微纳米三坐标测量机接触式扫描探头
申请号CN201610128438.7申请日期2016-03-07
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2016-06-22公开/公告号CN105698661A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B7/012IPC分类号G;0;1;B;7;/;0;1;2;;;G;0;1;B;7;/;0;1;6查看分类表>
申请人安徽电气工程职业技术学院;国网安徽省电力公司培训中心;合肥工业大学;国家电网公司申请人地址
安徽省合肥市包河区包河大道56号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人安徽电气工程职业技术学院,国网安徽省电力公司培训中心,合肥工业大学,国家电网公司当前权利人安徽电气工程职业技术学院,国网安徽省电力公司培训中心,合肥工业大学,国家电网公司
发明人李瑞君;周斌;程琳;程真英;陈晶
代理机构安徽省合肥新安专利代理有限责任公司代理人何梅生
摘要
本发明公开了一种微纳米三坐标测量机接触式扫描探头,其特征是在探头壳体中设置测头单元和测量单元;测头单元是以悬浮片(5a)在底座(6)的内腔中形成悬浮结构,在悬浮片的中心通孔中固定安装带有测球的探针,探针自底座的底部端口中探出,并且能够不受底座的底部端口的干扰而摆动;测量单元是设置在悬浮片的各悬臂上的电容传感器;本发明利用电容传感器的输出信号作为探头的检测信号,能够获得高精度、高灵敏度和小测力的探测效果,同时具有高稳定性和低成本的优势。

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