一种测试座及其控制方法、测试装置及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202010409440.8
IPC分类号：G01R31/28;G01K13/00
申请日期：
2020-05-14
申请人：
中山市江波龙电子有限公司

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著录项信息

专利名称	一种测试座及其控制方法、测试装置及存储介质
申请号	CN202010409440.8	申请日期	2020-05-14
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-12-03	公开/公告号	CN113740699A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;K;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人	中山市江波龙电子有限公司	申请人地址	广东省中山市翠亨新区和清路9号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中山市江波龙电子有限公司	当前权利人	中山市江波龙电子有限公司
发明人	任楚建;钟衍徽;程振
代理机构	深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	何倚雯

摘要

本申请公开了一种测试座及其控制方法、测试装置及存储介质，该测试座包括底座、盖体和温控组件，其中，底座上设置有测试组件和弹针，盖体连接所述底座，且可相对于所述底座转动形成盖合状态或分离状态，所述盖体朝向所述底座的一侧设置有压块，用于在所述底座和所述盖体呈盖合状态时，对所述底座上放置的待测件进行按压，以使所述待测件与所述测试组件接触，温控组件设置于所述盖体和所述压块之间，用于通过所述压块进行热传导，对所述待测件进行温度检测和温度控制，并在所述底座和所述盖体呈盖合状态时，接触所述弹针以通过所述弹针连接外部电路板。通过上述方式，本申请能够在测试芯片时调节并采集芯片的温度，以准确管控芯片测试的温度条件。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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