一种环件自动化多频阵列聚焦超声无损检测装置及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201711003175.8
IPC分类号：G01N29/06
申请日期：
2017-10-24
申请人：
武汉理工大学

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引证文献

著录项信息

专利名称	一种环件自动化多频阵列聚焦超声无损检测装置及方法
申请号	CN201711003175.8	申请日期	2017-10-24
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-03-13	公开/公告号	CN107796876A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕 G01N29/06 内部的显像，例如，声显微技术〔4，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;6查看分类表>
申请人	武汉理工大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞狮路122号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉理工大学	当前权利人	武汉理工大学
发明人	钱东升;王彬;华林;汪小凯;何溪明;张勇
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	唐万荣;王淳景

摘要

本发明公开了一种环件自动化多频阵列聚焦超声无损检测装置及方法，该装置包括收集槽、回转检测平台、外圆面多频聚焦探头阵列、端面多频聚焦探头阵列、多通道超声检测仪、工控机以及控制柜；所述外圆面多频聚焦探头阵列包括多列不同频率的聚焦探头，其设置在环件的外圆面处用于对环件径向深度分层聚焦并保证检测区域覆盖环件整个径向，所述端面多频聚焦探头阵列包括多列不同频率的聚焦探头，其设置在环件的上端面处用于对环件轴向深度分层聚焦并保证检测区域覆盖环件整个轴向。本发明利用超声多频聚焦探头对环件进行不同聚焦深度的缺陷检测，并对探头进行阵列提高检测效率，实现环件内部缺陷的自动化在线检测，检测精度高、效率高、适应性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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