一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201921233358.3
IPC分类号：G01R33/02
申请日期：
2019-07-31
申请人：
成都太微电子科技有限公司;都江堰市大阳量具有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺
申请号	CN201921233358.3	申请日期	2019-07-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/02 测量磁场或磁通量的方向或大小（G01R 33/20优先）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;0;2查看分类表>
申请人	成都太微电子科技有限公司;都江堰市大阳量具有限公司	申请人地址	四川省成都市高新区新雅中街26号附2号3层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都太微电子科技有限公司,都江堰市大阳量具有限公司	当前权利人	成都太微电子科技有限公司,都江堰市大阳量具有限公司
发明人	唐臻宇;王佶;冉启昌;冉启忠
代理机构	四川力久律师事务所	代理人	刘童笛

摘要

本实用新型涉及测量仪器领域，具体涉及一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，包括精测装置、放大装置和粗测装置，其中，放大装置包括精测齿轮和中心齿轮，中心齿轮能够带动精测齿轮转动，中心齿轮的角速度小于精测齿轮的角速度，第一旋转磁体组件和第一磁场检测组件其中之一与精测齿轮相连接，另一个与旋转体相连接，中心齿轮用于和基座一起转动连接于旋转体上；本申请的一种基于磁场方向测量的高精度数显角度尺，通过粗测装置测得一定精度要求的被测角度，再通过放大装置和精测装置测得被测数据中的更高精度部分，之后合成为最终的被测角度，即可达到更高的精度，以满足某些领域使用角度尺的精度要求。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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