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基板浮起装置以及基板浮起量测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310372965.9
  • IPC分类号:B65G35/00
  • 申请日期:
    2013-08-23
  • 申请人:
    东丽工程株式会社
著录项信息
专利名称基板浮起装置以及基板浮起量测量方法
申请号CN201310372965.9申请日期2013-08-23
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-03-26公开/公告号CN103662694A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B65G35/00IPC分类号B;6;5;G;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人东丽工程株式会社申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人东丽工程株式会社当前权利人东丽工程株式会社
发明人滨川健史;森俊裕;奥田哲也
代理机构北京三友知识产权代理有限公司代理人李辉;黄纶伟
摘要
本发明提供一种基板浮起装置和基板浮起量测量方法,能够将基板的浮起量始终准确地计算和控制。基板浮起装置(1)使基板浮起,该装置包括浮起单元(2)和解析装置(21),该浮起单元包括与浮起的基板(W)背面相对而置的对向面(14),且将基板浮起至对向面上方,该解析装置计算从该对向面浮起的基板的浮起量;其中,在该对向面下方进一步设置有向输送浮起单元上浮起的基板发射光的光反射型高度测量器(12),所述浮起单元包括贯通孔(15)和板体状基准板(13),该贯通孔使从高度测量器发射的光和在基板上反射后入射到高度测量器的光通过,该基准板设置在通过该贯通孔从高度测量器向基板发射的光的路径上且反射和透射一部分光。

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