一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310512524.4
IPC分类号：G01N21/00
申请日期：
2013-10-25
申请人：
中国科学院合肥物质科学研究院

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专利名称	一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及测量方法
申请号	CN201310512524.4	申请日期	2013-10-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-22	公开/公告号	CN103528952A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先）	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院合肥物质科学研究院	申请人地址	安徽省合肥市蜀山湖路350号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院合肥物质科学研究院	当前权利人	中国科学院合肥物质科学研究院
发明人	赵欣;桂华侨;余同柱
代理机构	北京科迪生专利代理有限责任公司	代理人	孟卜娟

摘要

一种开放光路式气体分析仪通量校正测量装置及方法，包括：温度探测器，用于探测气体测量仪表面温度；帕尔贴制冷元件，与光路底部外壳相接触，用于调整仪器外壳温度；装有红外滤光片的码盘，所述码盘周长边沿刻有等间距排列的狭缝，所述码盘在测量气体的转动过程中，通过狭缝产生斩波信号，用于同步触发A/D模块采集温度探测器上的信号；基于DSP和CPLD的温控电路，根据所述码盘转动的同步信号，采集所述温度探测器的温度数据，产生脉宽调制信号（PMW）驱动帕尔贴元件制冷；同时根据所述温度数据进行运算处理，产生WPL通量校准项，对通量进行实时校准。本发明通过实时温差数据计算出WPL通量校准项，可进一步提高气体分析仪的测量精度和稳定性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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