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X射线CT装置、投影数据的上采样方法以及图像重构方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201580057868.8
  • IPC分类号:A61B6/03
  • 申请日期:
    2015-11-13
  • 申请人:
    株式会社日立制作所
著录项信息
专利名称X射线CT装置、投影数据的上采样方法以及图像重构方法
申请号CN201580057868.8申请日期2015-11-13
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-08-29公开/公告号CN107106108A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号A61B6/03IPC分类号A;6;1;B;6;/;0;3查看分类表>
申请人株式会社日立制作所申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社日立制作所当前权利人株式会社日立制作所
发明人藤井英明;后藤大雅;中泽哲夫
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人李国华
摘要
在X射线CT装置中进行螺旋摄影等的情况下,可以得到更接近于实测值的上采样投影数据。在使X射线焦点位置移动至多个位置来获得投影数据的FFS法中,不降低旋转速度而提高有效视野整体的空间分辨率,X射线CT装置将通过螺旋摄影而得到的投影数据变换为正常摄影旋转一周份的投影数据,生成变换后的投影数据中的X射线透射路径大致一致的虚拟对置数据空间,在视角方向上进行上采样,此外针对通过使X射线焦点位置进行位移的同时进行螺旋摄影而得到的焦点位移投影数据也同样地在视角方向上对FFS投影数据进行上采样(虚拟对置数据空间生成)。

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