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一种光-电激励电子发射的原位表征方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811572336.X
  • IPC分类号:G01N21/65;G01N23/2208;G01N23/225;G01N23/2251;G01N23/227;G01N23/2273;B82Y35/00;B82Y40/00
  • 申请日期:
    2018-12-21
  • 申请人:
    中山大学
著录项信息
专利名称一种光-电激励电子发射的原位表征方法及装置
申请号CN201811572336.X申请日期2018-12-21
法律状态授权申报国家暂无
公开/公告日2019-05-31公开/公告号CN109827940A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/65IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;6;5;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2;0;8;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2;5;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2;5;1;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2;7;;;G;0;1;N;2;3;/;2;2;7;3;;;B;8;2;Y;3;5;/;0;0;;;B;8;2;Y;4;0;/;0;0查看分类表>
申请人中山大学申请人地址
广东省广州市海珠区新港西路135号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中山大学当前权利人中山大学
发明人沈岩;邓少芝;陈焕君;许宁生;陈军;佘峻聪
代理机构广州粤高专利商标代理有限公司代理人陈卫
摘要
本发明公开了一种光‑电激励电子发射的原位表征方法。在高分辨电子显微镜的真空腔体内,采用微纳探针电极作为原位电场激励引入部件,采用光学聚焦结构作为原位光场激励引入部件。在电子发射过程中,采用高分辨电子显微镜、拉曼光谱仪、光电子发射/场发射显微镜和电子发射能谱仪原位分析材料的实时形貌、结构、物质组成和温度,以及电子发射的空间及能量分布。还公开了一种光‑电激励电子发射的原位表征装置,包括高分辨电子显微镜、原位探针电学测试结构、光场聚焦结构、拉曼光谱仪、光电子发射/场发射显微镜和电子发射能谱仪;本发明技术能够在光场激励,以及光‑电场共同激励下,原位测量纳米结构材料的电子发射过程和物理特性。

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