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一种电子材料导电性能测试装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201921601261.3
  • IPC分类号:G01R31/00;G01R27/02;G01R1/04;G01R1/02
  • 申请日期:
    2019-09-25
  • 申请人:
    上海西浦医药科技有限公司
著录项信息
专利名称一种电子材料导电性能测试装置
申请号CN201921601261.3申请日期2019-09-25
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/00IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;2;7;/;0;2;;;G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;1;R;1;/;0;2查看分类表>
申请人上海西浦医药科技有限公司申请人地址
上海市松江区曹农路255号5号楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海西浦医药科技有限公司当前权利人上海西浦医药科技有限公司
发明人秦勇;陈悦
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型公开了一种电子材料导电性能测试装置,具体涉及测试设备领域,包括底座,所述底座的顶部设置有立柱,所述立柱的数量为两个,两个所述立柱的外侧均设置有活动块,所述立柱与活动块活动连接,所述活动块的数量为两个,两个所述活动块之间设置有横板,所述横板的两端均与活动块固定连接。本实用新型通过设有推动板与固定杆,与现有技术相比,通过推动板的运动带动了正极片以及负极片向一侧运动,让正极片以及负极片的端面均与推动板的竖直共面设置,可以将导电材料夹持住,可以适应不同大小的导电材料,便于使用,并让正极片以及负极片同时跟随着推动板移动,无需再次调整其位置,便于测试导电性能。

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