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一种激光挠度测量装置及其测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810772647.4
  • IPC分类号:G01C5/00;G01B11/02
  • 申请日期:
    2018-07-13
  • 申请人:
    中铁四局集团有限公司;安徽中铁工程技术服务有限责任公司;北京联睿科科技有限公司
著录项信息
专利名称一种激光挠度测量装置及其测量方法
申请号CN201810772647.4申请日期2018-07-13
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-11-30公开/公告号CN108917707A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C5/00IPC分类号G;0;1;C;5;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人中铁四局集团有限公司;安徽中铁工程技术服务有限责任公司;北京联睿科科技有限公司申请人地址
安徽省合肥市包河区望江东路96号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中铁四局集团有限公司,安徽中铁工程技术服务有限责任公司,北京联睿科科技有限公司当前权利人中铁四局集团有限公司,安徽中铁工程技术服务有限责任公司,北京联睿科科技有限公司
发明人耿天宝;伍军;汪清河;杨铭;刘道学;李福建;李华丰;李建锋;赵邦国;肖丽娜;沈翔;胡伟;楚跃峰
代理机构合肥天明专利事务所(普通合伙)代理人金凯
摘要
本发明涉及一种激光挠度测量装置及其测量方法。包括检测机构,所述的检测机构上设置有检测面以及在检测面限定范围内水平移动的线阵CCD扫描装置,所述的检测面为透明结构的方形检测面,所述检测机构的下方设有与被测点相连接的固定板,所述的固定板上设有激光测距仪,所述的激光测距仪在固定板上的位置可调,所述的检测机构内置有锂电池及GPRS/3G/GPS模块。由上述技术方案可知,本发明通过激光测距仪发射激光至检测面上,通过线阵CCD扫描装置在检测面内的来回扫描,可实现对光斑形状和位置的判断,并通过测量光斑在检测面的位置变化来计算测量装置的沉降值。

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