基于结温归一化的逆变器IGBT老化在线监测方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110522390.9
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2021-05-13
申请人：
武汉大学

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专利名称	基于结温归一化的逆变器IGBT老化在线监测方法及系统
申请号	CN202110522390.9	申请日期	2021-05-13
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-06	公开/公告号	CN113219315A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	武汉大学	申请人地址	湖北省武汉市武昌区八一路299号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉大学	当前权利人	武汉大学
发明人	何怡刚;王传坤;王枭;李猎;张威威;陈铭芸;刘小燕
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	张宇

摘要

本发明公开了一种基于结温归一化的逆变器IGBT键合线老化在线监测方法及系统，属于电力电子设备核心器件可靠性领域，包括：结合IGBT键合线的老化机理，建立老化模型；选择老化及结温的特征参数，结合老化模型推导特征识别式，并对逆变器IGBT模块进行参数识别；基于新型的集射极饱和压降Vce_on采样电路，提出了一种在线监测逆变器IGBT键合线老化的方法；该采样电路可以捕获Vce_on随集电极电流Ic而变化的全周期波形，从而获得老化及结温的特征参数以进行状态监测；通过结温归一化可以消除结温对于状态监测的干扰；最终，对比IGBT老化指标与老化阈值实时判断老化状态，并据此触发逆变器IGBT失效预警。

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