一种去钻污咬蚀率及均匀度的测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210096040.1
IPC分类号：G01B21/18;H01L21/66;H05K3/40
申请日期：
2012-04-01
申请人：
深南电路有限公司

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著录项信息

专利名称	一种去钻污咬蚀率及均匀度的测试方法
申请号	CN201210096040.1	申请日期	2012-04-01
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-23	公开/公告号	CN103363944A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/18 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/18 用于计量深度〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;1;8;;;H;0;1;L;2;1;/;6;6;;;H;0;5;K;3;/;4;0查看分类表>
申请人	深南电路有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区侨城东路99号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深南电路股份有限公司	当前权利人	深南电路股份有限公司
发明人	曲栋梁;何洪军;刘刚;杨智勤
代理机构	深圳市维邦知识产权事务所	代理人	黄莉

摘要

本发明公开了一种去钻污咬蚀率的测试方法，包括步骤：对测试板上被选试片进行钻孔处理，然后测量得出测试板于钻孔位置的孔深A；对钻孔后的被选试片进行去钻污咬蚀处理，然后再次测量得出测试板于钻孔位置的孔深B；根据测试板于钻孔位置的去钻污咬蚀处理前后的孔深得到咬蚀深度等于B‑A，再根据被选试片数量及其咬蚀深度得到平均咬蚀量；依据去钻污咬蚀处理时间及平均咬蚀量，得到去钻污咬蚀率。本发明同时还提供了一种去钻污均匀度的测试方法。本发明提供的方法可实现精确度高的去钻污咬蚀率及均匀度的测试，简便高效，填补业界技术空白，且成本低。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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