星上高光谱成像仪真空光谱定标装置及其测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201710861652.8
IPC分类号：G01J3/28
申请日期：
2017-09-21
申请人：
上海卫星工程研究所

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专利名称	星上高光谱成像仪真空光谱定标装置及其测试方法
申请号	CN201710861652.8	申请日期	2017-09-21
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-03-13	公开/公告号	CN107796515A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8查看分类表>
申请人	上海卫星工程研究所	申请人地址	上海市闵行区华宁路251号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海卫星工程研究所	当前权利人	上海卫星工程研究所
发明人	杨勇;何军;代海山;赵其昌;孙允珠;蒋光伟
代理机构	上海汉声知识产权代理有限公司	代理人	郭国中

摘要

本发明提供了一种星上高光谱成像仪真空光谱定标装置及其测试方法，该装置包括第一隔振设备等，第一隔振设备位于真空罐的外部，光源位于分光设备的一侧，光源、分光设备都放置在第一隔振设备上，分光设备放置于真空罐的外部，分光设备位于定标控制系统的一侧，平行光管位于高光谱成像仪的一侧，平行光管和二维指向镜都放置于真空罐的内部，高光谱成像仪位于二维指向镜的下方，外热流加热设备放置于真空罐内，第二隔振设备位于外热流加热设备的下方，高光谱成像仪放置在第二隔振设备上。本发明建立了具备星上高光谱仪器测试、空间环境适应性试验、高精度地面光谱定标能力的高光谱定标系统，确保环境引起的微形变不影响仪器的光谱性能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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