一种记忆卡测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201010612139.3
IPC分类号：G11C29/08
申请日期：
2010-12-29
申请人：
东莞矽德半导体有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种记忆卡测试方法
申请号	CN201010612139.3	申请日期	2010-12-29
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2011-07-27	公开/公告号	CN102136298A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;8查看分类表>
申请人	东莞矽德半导体有限公司	申请人地址	广东省东莞市清溪镇第二工业区东莞矽德半导体有限公司变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	东莞矽德半导体有限公司	当前权利人	东莞矽德半导体有限公司
发明人	陈志明
代理机构	东莞市中正知识产权事务所	代理人	刘林

摘要

本发明是关于一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管理单元，及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单元，其步骤为:1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元;2).开卡测试单元对测试物进行测试;3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的测试物则送回储放管理单元对应的置放区；4).读写测试单元对测试物进行读写的测试;5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。其测试效率高，而且测试时间精简，结果正确。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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