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形位公差检测平台

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN201320719036.6
  • IPC分类号:G01B5/00;G01B5/28;G01B5/25
  • 申请日期:
    2013-11-14
  • 申请人:
    比彼西(无锡)绝缘子有限公司
著录项信息
专利名称形位公差检测平台
申请号CN201320719036.6申请日期2013-11-14
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B5/00IPC分类号G;0;1;B;5;/;0;0;;;G;0;1;B;5;/;2;8;;;G;0;1;B;5;/;2;5查看分类表>
申请人比彼西(无锡)绝缘子有限公司申请人地址
江苏省无锡市锡山区安镇镇查桥街锡沪东路21号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人比彼西(无锡)绝缘子有限公司当前权利人比彼西(无锡)绝缘子有限公司
发明人包继东;陆伟伟;顾海磊
代理机构无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)代理人曹祖良
摘要
本实用新型提供一种形位公差检测平台,包括立柱、分度盘和底座;所述立柱的底端固定在底座上;分度盘安装在底座的平台上,分度盘上具有转动盘。进一步地,所述立柱由铁质或钢质材料制成。进一步地,所述立柱与分度盘上转动盘的平面垂直。进一步地,所述立柱的底部具有多片起支撑作用的翼片。本检测平台的结构比较合理,操作比较简单,对操作者要求不高。在使用时,通过和百分表的配合,可以达到对工件形位公差的检测要求。

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