一种阵列型电连接器测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201921353208.6
IPC分类号：G01R31/12;G01R27/02;G01R1/04
申请日期：
2019-08-20
申请人：
航天科工防御技术研究试验中心

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著录项信息

专利名称	一种阵列型电连接器测试装置
申请号	CN201921353208.6	申请日期	2019-08-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/12 测试介电强度或击穿电压	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;1;2;;;G;0;1;R;2;7;/;0;2;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	航天科工防御技术研究试验中心	申请人地址	北京市海淀区永定路50号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	航天科工防御技术研究试验中心	当前权利人	航天科工防御技术研究试验中心
发明人	胡开蕊;刘亚坤
代理机构	北京风雅颂专利代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种阵列型电连接器电性能测试装置，包括电路板以及设置在电路板上的插接部，插接部用于电连接器的插入；电路板包括基材层以及设置在基材层表面的布线层；布线层设置有第一引出端、第二引出端、与第一引出端相连接的第一引出线组以及与第二引出端相连接的第二引出线组；第一引出线组和第二引出线组分别按照预设的顺序排列；插接部具有与电连接器的插针/插孔相适配的多排凹槽，多排凹槽分别与第一引出线组和第二引出线组电连接；多排凹槽划分为第一凹槽组和第二凹槽组，第一凹槽组通过第一引出线组电连接至第一引出端，第二凹槽组通过第二引出线组电连接至第二引出端。

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