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光重构型门阵列的写入状态检查方法与写入状态检查装置以及光重构型门阵列

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200580027484.8
  • IPC分类号:H03K19/173;G01R31/317;H01L21/82
  • 申请日期:
    2005-06-16
  • 申请人:
    独立行政法人科学技术振兴机构;国立大学法人九州工业大学
著录项信息
专利名称光重构型门阵列的写入状态检查方法与写入状态检查装置以及光重构型门阵列
申请号CN200580027484.8申请日期2005-06-16
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2007-08-08公开/公告号CN101015123
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H03K19/173IPC分类号H;0;3;K;1;9;/;1;7;3;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;7;;;H;0;1;L;2;1;/;8;2查看分类表>
申请人独立行政法人科学技术振兴机构;国立大学法人九州工业大学申请人地址
日本埼玉县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人独立行政法人科学技术振兴机构,国立大学法人九州工业大学当前权利人独立行政法人科学技术振兴机构,国立大学法人九州工业大学
发明人渡边实;小林史典
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人曾祥夌;刘宗杰
摘要
提供不需要ORGA的逻辑电路内部的写入状态检查专用电路的写入状态检查技术。将ORGA内的逻辑电路结构照射到检查对象光重构位元件上的光信号从ON转换到了OFF时,作为至少一个逻辑电平或输出阻抗构变化的逻辑结构上构成的光信号图案,将照射到检查对象光重构位元件上的光信号为ON或OFF的第一、第二光信号图案对逻辑电路依次照射而输入。与此同时,通过连接在各个逻辑输出端子上的、检测该输出端子的逻辑电平是H电平、L电平或高阻抗中的哪一种状态的输出状态检测电路,检测各个输出状态。通过将所检测出的状态与所输入的光信号图案的正常的输出状态进行比较,对各光重构位元件判断由光信号产生的信息写入状态是否合格。

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