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一种基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法、设备及介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110716313.7
  • IPC分类号:G06T7/00;G06T5/00;G06T3/40
  • 申请日期:
    2021-06-25
  • 申请人:
    中国人民解放军国防科技大学
著录项信息
专利名称一种基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法、设备及介质
申请号CN202110716313.7申请日期2021-06-25
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-09-17公开/公告号CN113409283A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06T7/00IPC分类号G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;5;/;0;0;;;G;0;6;T;3;/;4;0查看分类表>
申请人中国人民解放军国防科技大学申请人地址
湖南省长沙市开福区德雅路109号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国人民解放军国防科技大学当前权利人中国人民解放军国防科技大学
发明人樊程广;吴宗谕;余孙全;高斌;杨磊;赵勇
代理机构长沙智嵘专利代理事务所(普通合伙)代理人黄海波
摘要
本申请公开了一种基于超分辨率超声图像的缺陷量化方法、设备及介质,所述方法包括步骤:对被测对象的所有超声回波信号构成的全矩阵采集数据进行时域预处理,提取被测对象中扩展目标的相关散射信号,所述扩展目标为被测对象中具有一定长度和角度的直线形缺陷;根据所述扩展目标的相关散射信号进行超分辨率成像,获取扩展目标的超分辨率超声图像;对所述超分辨率超声图像进行图像特征分析和扩展目标参数评估,获取扩展目标的长度和角度。本申请通过分析超分辨率超声图像,准确评估具有一定尺寸和角度的扩展目标的长度和角度,实现扩展目标的量化评估,从而准确掌握上述扩展目标的相关参数,实现超声无损检测时对缺陷进行更全面的检测和评估。

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