著录项信息
专利名称 | 二维度感测资讯分析的方法与装置 |
申请号 | CN201010502656.5 | 申请日期 | 2010-10-08 |
法律状态 | 驳回 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2011-05-04 | 公开/公告号 | CN102043510A |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G06F3/041 | IPC分类号 | G;0;6;F;3;/;0;4;1查看分类表>
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申请人 | 禾瑞亚科技股份有限公司 | 申请人地址 | 中国台湾台北市内湖区瑞光路302号11楼
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 禾瑞亚科技股份有限公司 | 当前权利人 | 禾瑞亚科技股份有限公司 |
发明人 | 张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆 |
代理机构 | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 寿宁;张华辉 |
摘要
本发明是有关于一种二维度感测资讯分析的方法与装置。其中的方法包括,将二维度感测资讯进行一分析,从二维度感测资讯分析出触碰相关感测资讯,其中触碰相关感测资讯可以是包括:具有内低外高的值的触碰相关感测资讯与具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。其中的装置包括一控制器与一主机之一,执行一分析,对一第一二维度感测资讯进行一分析,以分析出该第一二维度感测资讯中的每一个具有内低外高的值的触碰相关感测资讯。本发明提供的技术方案能够有效降低噪点干扰,非常适于实用。
1.一种二维度感测资讯的分析方法,其特征在于包括:
对一第一二维度感测资讯进行一分析,以分析出该第一二维度感测资讯中的每一个具有内低外高的值的触碰相关感测资讯。
2.如权利要求1所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于更包括:
将每一个具有内低外高的值的触碰相关感测资讯分别转换成为具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。
3.如权利要求1所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于更包括:
取得一第二二维度感测资讯;以及
将该第二二维度感测资讯的正值或负值进行一转换以成为该第一二维度感测资讯,该转换是选自:负值转为正值、正值转为负值、正值转为零值或负值转为零值中的一个。
4.如权利要求3所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于更包括:
分别将每一个具有内低外高的值的触碰相关感测资讯依据在该第二二维度感测资讯中相应的部份转换成为具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。
5.如权利要求3所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于更包括:
分别将每一个具有多个峰的触碰相关感测资讯依据在该第二二维度感测资讯中相应的部份分别转换成为具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。
6.如权利要求1所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于其中该分析更包括:
分析出该第一二维度感测资讯中的每一个具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。
7.如权利要求6所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于更包括:
分析每一个触碰相关感测资讯的一外廓;以及
分别依据每一个外廓输出一几何数据,其中该几何数据的表示方式选自下列几何图形的表示方式之一或组合:圆形、椭圆形、四边型与多边形。
8.如权利要求6所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于其中更包括:
计算每一个触碰相关感测资讯的质量重心位置或几何中心分别作为一触碰位置。
9.如权利要求6所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于其中更包括:
将具有双峰的触碰相关感测资讯转换成为具有单峰的触碰相关感测资讯。
10.如权利要求1所述的二维度感测资讯的分析方法,其特征在于其中该二维度感测资讯包括:
多个双差值;
由多个双差值产生的多个正值或多个负值,其中上述双差值的所有负值被转换成为零值或所有正值被转换成零值;或
由多个差值产生的多个正值或多个负值,其中上述差值的所有负值被转换成为正值或所有正值被转换成负值。
11.一种二维度感测资讯的分析装置,包括一控制器与一主机之一,执行一分析,其特征在于包括:
对一第一二维度感测资讯进行一分析,以分析出该第一二维度感测资讯中的每一个具有内低外高的值的触碰相关感测资讯。
12.如权利要求11所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于其中该分析装置更包括:
一感测装置,包括多个感测器;
其中该控制器每次对上述感测器进行感测时提供一一维度感测资讯,该控制器更包括执行以下作业:
将多个一维度感测资讯构成一第二二维度感测资讯;以及将该第二二维度感测资讯的正值或负值进行一转换以成为该第一二维度感测资讯,该转换是选自下列群组之一:负值转为正值、正值转为负值、正值转为零值或负值转为零值。
13.如权利要求11所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于更包括:
一感测装置,包括多个感测器;
其中该控制器每次对上述感测器进行感测时提供一一维度感测资讯,该第一二维度感测资讯是由多个一维度感测资讯构成。
14.如权利要求13所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于其中该分析更包括:
将每一个具有内低外高的值的触碰相关感测资讯分别转换成为具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。
15.如权利要求13所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于其中该分析更包括:
分别将每一个具有多个峰的触碰相关感测资讯依据在该第二二维度感测资讯中相应的部份分别转换成为具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。
16.如权利要求11所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于其中该分析更包括:
分析出该第一二维度感测资讯中的每一个具有内高外低的值的触碰相关感测资讯。
17.如权利要求16所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于其中该分析更包括:
分析每一个丘陵邻与盆地的外廓;以及
分别依据每一个外廓输出一几何数据,其中该几何数据的表示方式选自下列几何图形的表示方式之一或组合:圆形、椭圆形、四边型与多边形。
18.如权利要求16所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于其中该分析更包括:
计算每一个触碰相关感测资讯的质心位置或几何中心分别作为一触碰位置。
19.如权利要求16所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于其中更包括:
将具有双峰的触碰相关感测资讯转换成为具有单峰的触碰相关感测资讯。
20.如权利要求11所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于其中该二维度感测资讯包括:
多个双差值;
由多个双差值产生的多个正值或多个负值,其中上述双差值的所有负值被转换成为零值或所有正值被转换成零值;或
由多个差值产生的多个正值或多个负值,其中上述差值的所有负值被转换成为正值或所有正值被转换成负值。
21.如权利要求11所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于更包括:
一感测装置,包括多个感测器;其中该控制器每次对上述感测器进行感测时提供一一维度感测资讯,并且该主机是由该控制器多次提供的该一维度感测资讯产生该一二维度感测资讯。
22.如权利要求11所述的二维度感测资讯的分析装置,其特征在于更包括:
一感测装置,包括多个感测器;
其中该控制器每次对上述感测器进行感测时提供一一维度感测资讯,其中该主机执行该分析,并且该控制器对上述感测器进行多次感测以提供该第一二维度感测资讯。
引用专利(该专利引用了哪些专利)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
1
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2005-03-16
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2002-08-13
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2
| | 暂无 |
2007-12-28
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3
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2006-12-27
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2005-06-20
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4
| | 暂无 |
2007-12-05
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被引用专利(该专利被哪些专利引用)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 该专利没有被任何外部专利所引用! |