加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

一种叶酸修饰碳量子点的制备方法及检测痕量六价铬离子的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711259904.6
  • IPC分类号:G01N21/64;C09K11/02;C09K11/65
  • 申请日期:
    2017-12-04
  • 申请人:
    宇星科技发展(深圳)有限公司
著录项信息
专利名称一种叶酸修饰碳量子点的制备方法及检测痕量六价铬离子的方法
申请号CN201711259904.6申请日期2017-12-04
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2018-05-01公开/公告号CN107974248A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/64IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;6;4;;;C;0;9;K;1;1;/;0;2;;;C;0;9;K;1;1;/;6;5查看分类表>
申请人宇星科技发展(深圳)有限公司申请人地址
广东省佛山市顺德区勒流街道江村村慧商路8号(住所申报) 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人广东盈峰科技有限公司当前权利人广东盈峰科技有限公司
发明人肖研;郭德音;李满园
代理机构深圳市精英专利事务所代理人任哲夫
摘要
本发明公开了一种叶酸修饰碳量子点的制备方法并利用该叶酸修饰碳量子点进行痕量六价铬离子的检测,该方案中,叶酸修饰碳量子点作为荧光探针,有很好的动力学和热力学性能、物理化学稳定性、良好的水溶性、高耐光性、表面性质多样性、易于化学修饰形成功能性的环境友好的碳纳米颗粒;且本方案所制备的碳量子点不含重金属,可减少环境污染;且叶酸修饰碳量子点对于痕量六价铬具有很好的灵敏度(1‑20ppb)。最后,该六价铬的荧光传感方法具有线性动态范围宽、光谱干扰少、灵敏度高等优点;检测荧光光谱的荧光分光光度计设备费用较低,无需繁琐处理等等优势。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供