一种激光冲击强化缺陷实时检测的声发射信号频段选择方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110512043.8
IPC分类号：G01N29/14;G01N29/44;G01N21/17
申请日期：
2021-05-11
申请人：
西安交通大学

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著录项信息

专利名称	一种激光冲击强化缺陷实时检测的声发射信号频段选择方法
申请号	CN202110512043.8	申请日期	2021-05-11
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-03	公开/公告号	CN113340995A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/14 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/10 （转入G01N 29/07，G01N 29/09，G01N 29/11，G01N 29/12） G01N29/14 利用声波发射技术〔5，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;1;4;;;G;0;1;N;2;9;/;4;4;;;G;0;1;N;2;1;/;1;7查看分类表>
申请人	西安交通大学	申请人地址	陕西省西安市咸宁西路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学	当前权利人	西安交通大学
发明人	张志芬;李耿;秦锐;刘子岷;田增;何卫锋;温广瑞
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	闵岳峰

摘要

本发明公开了一种激光冲击强化缺陷实时检测的声发射信号频段选择方法，该方法结合了激光冲击强化加工过程和平板缺陷检测过程，利用加工过程中材料内部的声发射现象，进行缺陷检测。首先，声发射信号由材料自身产生，与材料内部结构息息相关，当材料有缺陷时，在声发射信号上能够清晰体现；其次，利用谱峭度对冲击成分敏感的特性，更加精准的检测出信号与缺陷作用时产生的冲击分量；最后，利用F_score重要度排序，依据各谱峭度所在频段对空白平板和缺陷平板的区分能力进行排序，精确定位缺陷信息频段。本发明方法简单快速，特征区分度高，鲁棒性强，工程实用性高，为实现激光冲击强化过程中的缺陷在线检测提供了有效的技术实现途径。

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