芯片异常检测方法和装置及电路面板异常检测方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201610066180.2
IPC分类号：G06F11/267
申请日期：
2016-01-29
申请人：
硅谷数模半导体（北京）有限公司;硅谷数模国际有限公司

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著录项信息

专利名称	芯片异常检测方法和装置及电路面板异常检测方法和装置
申请号	CN201610066180.2	申请日期	2016-01-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-07-06	公开/公告号	CN105740118A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/267 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/22 在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位〔3，2006.01〕 G06F11/26 功能检验〔3〕 G06F11/267 用于检验的再组合电路，例如，LSSD、分离〔6〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;2;6;7查看分类表>
申请人	硅谷数模半导体（北京）有限公司;硅谷数模国际有限公司	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街2号数码大厦A座28层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	硅谷数模半导体（北京）有限公司,硅谷数模国际有限公司	当前权利人	硅谷数模半导体（北京）有限公司,硅谷数模国际有限公司
发明人	袁森;郭方正;张箭
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	韩建伟;张永明

摘要

本发明公开了一种芯片异常检测方法和装置及电路面板异常检测方法和装置。其中，该芯片异常检测方法包括：利用待检测芯片内控制器中的预设应用程序获取待检测芯片内至少一个寄存器中存储的状态信息；利用预设应用程序检测状态信息是否异常；以及在预设应用程序检测到状态信息异常时，确定待检测芯片异常。本发明解决了相关技术采用静电枪对电子芯片的静电放电进行检测，导致电子芯片静电放电检测效率低的技术问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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