基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法及仪器

发明专利无效专利

申请号：
CN201310023618.5
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2013-01-22
申请人：
中国计量学院

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法及仪器
申请号	CN201310023618.5	申请日期	2013-01-22
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-05-15	公开/公告号	CN103105285A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国计量学院	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量学院	当前权利人	中国计量学院
发明人	张淑琴;陈亮;杨润光;金尚忠;杨琳;吴军法;徐珍宝;张林波;徐强;毛世挺
代理机构	杭州浙科专利事务所（普通合伙）	代理人	吴秉中

摘要

本发明公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器，包括：标准光源（1）及其稳流源（2），聚光镜（3），积分球（4）及其移动机构，分辨率靶（5），和CCD数据采集和微机处理系统（8），所述分辨率靶（5）设置在所述积分球（4）的均匀漫射出口上；本发明还公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法。本发明补充当前对光纤面板极限分辨率测试技术的空白，利用一种分辨率靶剔除暗影点来精确的系统测量光纤面板各个部分的极限分辨率，可以给出不同光纤面板各个部分的分辨率分布，还能定位出光纤面板存在的暗影坐标。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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