基于反射型太赫兹时域光谱的金属表面粗糙度检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201510862112.2
IPC分类号：G01B11/30
申请日期：
2015-12-01
申请人：
中国矿业大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	基于反射型太赫兹时域光谱的金属表面粗糙度检测方法
申请号	CN201510862112.2	申请日期	2015-12-01
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2016-02-17	公开/公告号	CN105333841A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人	中国矿业大学	申请人地址	江苏省徐州市大学路1号南湖校区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国矿业大学	当前权利人	中国矿业大学
发明人	曹丙花;范孟豹;盛恒;李超;孙彦景
代理机构	常州市科谊专利代理事务所	代理人	孙彬

摘要

本发明公开了一种基于反射型太赫兹时域光谱的金属表面粗糙度检测方法，包括：以下步骤：1）建立标准试件的粗糙度检测模型；2）计算待测试件的粗糙度值；本发明首先利用装置获取某种材料的标准试件的太赫兹反射光谱，建立粗糙度检测模型，然后测量待测试件的太赫兹反射光谱，并应用建立的粗糙度检测模型获取粗糙度；本发明利用太赫兹波原理能够对带镀层的金属的表面粗糙度差异、腐蚀和表面损伤等进行准确检测，具有无损、非接触、分析速度快等特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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