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BiCMOS工艺中的寄生PIN器件及制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201110259144.5
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2011-09-02
  • 申请人:
    上海华虹NEC电子有限公司
著录项信息
专利名称BiCMOS工艺中的寄生PIN器件及制造方法
申请号CN201110259144.5申请日期2011-09-02
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2012-04-11公开/公告号CN102412308A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人上海华虹NEC电子有限公司申请人地址
变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海华虹宏力半导体制造有限公司当前权利人上海华虹宏力半导体制造有限公司
发明人胡君;刘冬华;段文婷;石晶;钱文生
代理机构上海浦一知识产权代理有限公司代理人丁纪铁
摘要
本发明公开了一种BiCMOS工艺中的寄生PIN器件,形成于硅衬底上,有源区通过浅沟槽隔离,包括:一N型区,由形成于浅沟槽隔离氧化层底部并和有源区相隔一段距离的一N型赝埋层组成;一I型区,是由形成于有源区中N型的集电极注入区形成,和N型区在浅沟槽隔离氧化层底部相接触;一P型区,由形成于有源区表面上的掺有P型杂质的本征基区外延层组成,和I型区相接触。本发明还公开了一种BiCMOS工艺中的寄生PIN器件的制造方法。本发明制造方法利用BiCMOS工艺中现有工艺条件就能实现,无需额外增加工艺条件;本发明器件具有较低插入损耗和较高隔离度且隔离度方便改善调节,无需额外的工艺条件就可以实现为电路提供多一种器件选择。

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