一种光束准直性检测方法

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专利名称	一种光束准直性检测方法
申请号	CN201410655245.8	申请日期	2014-11-18
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-03-11	公开/公告号	CN104406702A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J11/00 测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性〔5〕	IPC分类号	G;0;1;J;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市嘉定区上海市800－211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	李思坤;王向朝;徐东瀛
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯;张宁展

摘要

一种光束准直性检测方法，该方法包括纯莫尔条纹提取、一维条纹信息获取、小波变换、条纹周期计算和光束发散角计算5个步骤。本发明具有较强的噪声抑制能力，当CCD摄像机采集的双螺旋莫尔条纹图像中含有较强噪声时，仍然能够实现高精度光束准直性定量检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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