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在同一蚀刻室进行介层窗蚀刻的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN02103189.4
  • IPC分类号:H01L21/311
  • 申请日期:
    2002-02-04
  • 申请人:
    旺宏电子股份有限公司
著录项信息
专利名称在同一蚀刻室进行介层窗蚀刻的方法
申请号CN02103189.4申请日期2002-02-04
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2003-08-20公开/公告号CN1437227
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/311
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;3;1;1查看分类表>
申请人旺宏电子股份有限公司申请人地址
台湾省新竹科学工业园区力行路16号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人旺宏电子股份有限公司当前权利人旺宏电子股份有限公司
发明人邱建智;朱倍宏
代理机构北京集佳知识产权代理有限公司代理人王学强
摘要
一种在同一蚀刻室进行介层窗蚀刻的方法,是提供一具有一介电层的基底,并于介电层上形成具有一开口的图案化罩幕。然后于一蚀刻室中,以图案化罩幕作为蚀刻罩幕,对介电层施行一蚀刻工艺,以于介电层中形成一介层窗洞。随后,于同一蚀刻室中进行氧处理工艺,以去除接近介层窗洞的部分图案化罩幕,而介层窗洞仍保持其轮廓。接着,于同一蚀刻室中,以剩余的图案化罩幕作为蚀刻罩幕,对介电层施行一蚀刻工艺,以扩大介层窗洞的上部。因此可于同一蚀刻室中完成介层窗蚀刻工艺,以节省工艺时间。

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