校正方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200810304968.8
IPC分类号：G01B11/00
申请日期：
2008-10-17
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	校正方法
申请号	CN200810304968.8	申请日期	2008-10-17
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2010-06-09	公开/公告号	CN101726246A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	张旨光;蒋理;李东海;薛晓光;袁忠奎
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种校正片用以校正一影像测量仪的图像撷取装置，该校正片包括一薄片，该薄片上形成一零点标记，该薄片上形成至少一校正区，该校正区内设有若干整齐排列且尺寸相同的标准图形。该校正片通过设置若干大小各异校正区，同一校正片可适用于该图像撷取装置不同的放大倍数，同时，每一校正区内设有若干整齐排列且尺寸相同的标准图形，只需一次测量这些标准图形的参考点就可完成校正过程，无需移动校正片并多次测量，使校正过程方便、快捷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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