一种小型背散射X射线检查装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200910205968.7
IPC分类号：G01N23/203
申请日期：
2009-11-17
申请人：
公安部第一研究所;北京中盾安民分析技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种小型背散射X射线检查装置
申请号	CN200910205968.7	申请日期	2009-11-17
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-05-12	公开/公告号	CN101706460A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/203 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/203 测量背散射〔2，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;3查看分类表>
申请人	公安部第一研究所;北京中盾安民分析技术有限公司	申请人地址	北京市海淀区首都体育馆南路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	公安部第一研究所,北京中盾安民分析技术有限公司	当前权利人	公安部第一研究所,北京中盾安民分析技术有限公司
发明人	陈惠民;陈学亮;梁泽;陈力;崔玉华;肖广安;李晓莉;王建荣;邢羽;董国平;苗祥月
代理机构	北京中海智圣知识产权代理有限公司	代理人	王冬华

摘要

本发明公开了一种小型背散射X射线检查装置，包括：中央控制与处理单元，分别与中央控制与处理单元连接的斩波轮控制器、X射线源控制器、主计算机、射线屏蔽门控制器、系统控制键盘、扫描速度显示器、背散射信号预放器、射线警示装置、安全连锁开关以及温控模块。中央控制与处理单元包括网络模块、数字信号处理电路、系统控制电路、安全连锁逻辑电路、低压电源模块；本发明具有透射能力强、最大检测距离长、扫描速度快、图像清晰度和图像分辨率高、射线泄漏剂量率低等特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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