光检测方法、光检测装置和程序

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专利名称	光检测方法、光检测装置和程序
申请号	CN201880006248.5	申请日期	2018-01-15
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-08-23	公开/公告号	CN110168310A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;8查看分类表>
申请人	索尼公司	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	索尼公司	当前权利人	索尼公司
发明人	森田宽;鸟羽一彰;山本真也;上田健二朗;高桥辽平
代理机构	中国贸促会专利商标事务所有限公司	代理人	杜文树

摘要

本发明的目的是甚至对于具有不均匀强度分布的光束仍然能够稳定地获得束直径或光轴。在相对于总光强度具有特定比率的光强度范围中获得了光束的截面的轮廓。从该轮廓获得近似圆。使用最小二乘法等计算近似圆。基于该近似圆获得光束的光轴和/或束直径。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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